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電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)測(cè)試點(diǎn)的重要性
硬件測(cè)試，固件開發(fā)和生產(chǎn)質(zhì)量控制都可以通過測(cè)試點(diǎn)獲得幫助。它們可以簡化產(chǎn)品開發(fā)過程，并在印刷電路板（PCB）進(jìn)入批量生產(chǎn)時(shí)幫助進(jìn)行編程，測(cè)試，校準(zhǔn)和設(shè)置。
什么是測(cè)試點(diǎn)？
測(cè)試點(diǎn)是一小部分裸露的銅，您可以將其連接至探頭-用于開發(fā)的示波器探頭或生產(chǎn)中的接觸針，這些通常位于印刷電路板的底部。更復(fù)雜或更密集的板可能在板的兩面都有測(cè)試點(diǎn)。
我應(yīng)該標(biāo)記測(cè)試點(diǎn)嗎？
大多數(shù)PCB需要經(jīng)過工程測(cè)試和驗(yàn)證的某些元素。如果您有足夠的空間對(duì)這些標(biāo)簽進(jìn)行有意義的標(biāo)記，則可以使工作變得更輕松，從而使工程團(tuán)隊(duì)在最初的調(diào)試和調(diào)試期間可以更快地進(jìn)行測(cè)試。如果空間很小，則通過簡單的數(shù)字參考來識(shí)別它們也很有用。
哪些信號(hào)應(yīng)具有測(cè)試點(diǎn)？
電源軌，接地，編程連接，JTAG端口，串行通信總線，復(fù)位線，UART，可編程參考，中斷線和其他可能對(duì)開發(fā)和生產(chǎn)團(tuán)隊(duì)有用的信號(hào)。在BGA，QFN或LGA設(shè)備之間路由關(guān)鍵信號(hào)時(shí)，這一點(diǎn)尤其重要，因?yàn)槿绻挥?jì)劃，將無法訪問該信號(hào)。
最佳測(cè)試點(diǎn)數(shù)是多少？
您只需要足夠的測(cè)試點(diǎn)即可滿足預(yù)期的需求。黃金標(biāo)準(zhǔn)是要有一個(gè)硬件啟動(dòng)計(jì)劃和一個(gè)生產(chǎn)測(cè)試計(jì)劃，并確保每個(gè)必要的信號(hào)都有一個(gè)測(cè)試點(diǎn)。
注意測(cè)試點(diǎn)的危險(xiǎn)
測(cè)試點(diǎn)是裸露的銅區(qū)域，可能會(huì)意外短路到另一個(gè)測(cè)試點(diǎn)并造成損壞。在工作臺(tái)上進(jìn)行測(cè)試應(yīng)確保工作空間干凈，沒有雜散導(dǎo)線，組件引線或其他電路板。導(dǎo)電外殼和散熱器需要遠(yuǎn)離測(cè)試點(diǎn)，以免出現(xiàn)問題。
測(cè)試點(diǎn)太多–散彈槍測(cè)試點(diǎn)方法使電路板復(fù)雜，在電源和接地層上打孔，并沒有帶來太多其他好處。
在高速或受控阻抗網(wǎng)上創(chuàng)建存根。在需要測(cè)試點(diǎn)的地方，應(yīng)將其布線，以最大程度地減少額外的走線根，以防止信號(hào)反射降低信號(hào)完整性，并避免造成電磁兼容性（EMC）問題。
歷史上如何使用測(cè)試點(diǎn)？
較舊的思想流派。
過去，通常在每個(gè)組件之間的每個(gè)信號(hào)結(jié)上放置測(cè)試點(diǎn)或測(cè)試平臺(tái)。其中包括一張大指甲測(cè)試儀，用于檢查PCB上每個(gè)信號(hào)分量的值和位置。
這通常導(dǎo)致pcb設(shè)計(jì)比所需的更大或具有更多的層數(shù)，這在材料成本上更加昂貴。此外，最終會(huì)花費(fèi)不必要的時(shí)間在PCB布局和布線上。
為什么要考慮使用測(cè)試點(diǎn)？
當(dāng)然，有些企業(yè)不使用測(cè)試點(diǎn)。這可能是因?yàn)殡娐钒宸浅＞o湊，以至于沒有空間，并且其他測(cè)試策略（例如邊界掃描）更合適。有時(shí)測(cè)試點(diǎn)從未添加到產(chǎn)品組合的電子產(chǎn)品中由于產(chǎn)品的簡單性或預(yù)期的銷售量很少，所以。
在初始設(shè)計(jì)過程中添加測(cè)試點(diǎn)的好處
在初始設(shè)計(jì)過程中添加適當(dāng)?shù)臏y(cè)試點(diǎn)，可以在體積增加，發(fā)現(xiàn)質(zhì)量問題或使其變得更容易的地方實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試的可能性。
在沒有測(cè)試點(diǎn)的地方，可以探查焊點(diǎn)或更大的組件連接，但這可能會(huì)降低可靠性并限制測(cè)試范圍。
測(cè)試點(diǎn)如何用于產(chǎn)品開發(fā)目的？
測(cè)試點(diǎn)對(duì)于開發(fā)，啟動(dòng)和測(cè)試很有用。它們對(duì)于硬件和軟件團(tuán)隊(duì)很有用，因?yàn)槟梢詫?dǎo)線焊接到測(cè)試點(diǎn)上，從而在啟動(dòng)時(shí)易于監(jiān)視。以后對(duì)診斷環(huán)境測(cè)試中發(fā)現(xiàn)的問題也可以使用相同的觀點(diǎn)。
測(cè)試點(diǎn)對(duì)質(zhì)量控制有用嗎？
生產(chǎn)線質(zhì)量控制金
真正的價(jià)值來自生產(chǎn)環(huán)境，您可以在其中使用測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行質(zhì)量控制或編程，設(shè)置或校準(zhǔn)。這些任務(wù)的可重復(fù)自動(dòng)化可以加快過程，降低成本并降低技能主導(dǎo)的任務(wù)，從而使非技術(shù)人員可以可靠地使用。
測(cè)試點(diǎn)可以加快速度嗎？
作為記錄…
擁有測(cè)試點(diǎn)可以加快開發(fā)速度，更重要的是，可以為您提供質(zhì)量控制保證。它還使您能夠自動(dòng)設(shè)置測(cè)試校準(zhǔn)。實(shí)際上，它也是可追溯的。
可以將測(cè)試點(diǎn)用于可追溯性嗎？
使用可追溯性使用歷史數(shù)據(jù)檢查故障源
可以使用條形碼和標(biāo)簽打印機(jī)將測(cè)試結(jié)果鏈接到單個(gè)板和產(chǎn)品?？梢話呙杳總€(gè)板以訪問其測(cè)試記錄。如果記錄了正確的度量值，如果以后出現(xiàn)問題，使用歷史證據(jù)進(jìn)行測(cè)試非常有用。您可以查看測(cè)試結(jié)果趨勢(shì)，以更好地了解問題是否與批次相關(guān)，與供應(yīng)鏈相關(guān)或是否存在其他原因，例如物料清單更改或固件更新。
為什么瞬間失敗是一件好事！
有時(shí)知道某些事情現(xiàn)在會(huì)失敗比獲得即時(shí)通過要好得多，為什么？由于節(jié)省了時(shí)間和金錢，因此可以節(jié)省成本。
不幸的是，在我們從事產(chǎn)品開發(fā)工程的職業(yè)生涯中，我們經(jīng)常與沒有進(jìn)行子裝配測(cè)試的產(chǎn)品所有者交談。這意味著必須先組裝完整的產(chǎn)品，然后才能觀察到任何故障。這導(dǎo)致昂貴且費(fèi)時(shí)的返工。
使用測(cè)試點(diǎn)發(fā)現(xiàn)隱藏的問題
更糟糕的是影響產(chǎn)品長期性能的細(xì)微問題。傳感器的準(zhǔn)確性和功耗是在組裝PCB階段可能遇到的兩個(gè)問題，但可能會(huì)未經(jīng)測(cè)試而進(jìn)入客戶手中。至少可以說，到達(dá)終點(diǎn)并不得不回去并不理想！
盡早使用測(cè)試點(diǎn)發(fā)現(xiàn)故障可以使其更便宜，并節(jié)省成本和質(zhì)量問題。它還為您提供了您無法衡量的東西。內(nèi)心的平靜。
通常在生產(chǎn)階段，很容易會(huì)假設(shè)測(cè)試過程是可靠的，但是使用測(cè)試夾具會(huì)使這一點(diǎn)更上一層樓。
在制造階段使用測(cè)試夾具進(jìn)行測(cè)試。
你自己的小擁護(hù)者
如果您將制造工作外包給第三方，則可以將您的生產(chǎn)測(cè)試夾具視為質(zhì)量控制團(tuán)隊(duì)的一部分，幾乎就像是一名員工一樣，在您付款之前就坐在別人的生產(chǎn)線上。
如果產(chǎn)品制造正確，則表明該裝置通過了測(cè)試，您有信心并證明一切都很好。如果產(chǎn)品未通過測(cè)試，則將發(fā)出早期警告，指出存在問題。這可能是制造問題或設(shè)計(jì)問題。知道問題的任何一種方法都可以采取糾正措施，并防止劣質(zhì)產(chǎn)品到達(dá)客戶手中并可能損害您的聲譽(yù)。